Vermessen von Leuchtmitteln zur Ermittlung der Lichtqualität
Seit einigen Jahren beschäftigen wir uns mit OLEDs. Einerseits arbeiten wir an Laserprozessen zur Produktion von OLEDs und mit der Messung der Eigenschaften der OLED-Schichten vor und nach der Laserbearbeitung. Andererseits beschäftigt und auch der Einsatz der OLED als Lichtquelle selber. Und das insbesondere im Vergleich zu herkömmlichen Lichtquellen. Dabei konzentrieren wir und u.A. auch die höhere Farbqualität gegenüber LED-Beleuchtung und die daraus resultierenden Anwendungen.
Laser-induzierte Plasma-Spektroskopie zur Materialanalyse und Prozessregelung
Bei der „laser-induced breakdown spectroscopy“ (LIBS) wird mit einem gepulsten Laserstrahl Material einer Probe abgetragen. Dadurch entsteht ein leuchtendes Plasma. Je nach Materialzusammensetzung entstehen unterschiedlichePlasma-Spektren mit Anregungsbanden, die charakteristisch für die elementare Zusammensetzung der Probe sind. Durch die Kombination von LIBS mit der Laserablation kann materialselektiv der Ablationsprozess an einer Grenzfläche gestoppt werden.
Laser-Fluoreszenz-Imaging an toten und lebenden Pflanzen
Die Fluoreszenz wird verursacht durch das Chlorophyll der lebenden Pflanze. Tote Pflanzen und Pflanzenteile bleiben bei dieser Methode dunkel.
Es lassen sich bei Variation der Anregungswellenlänge und des spektralen Detektionsfensters insbesondere bei zeitaufgelösten Messungen Aussagen über den Zustand und die Wachstumsphase von Pflanzen und Pflanzenteilen treffen
Laser-Fluoreszenz-Spektroskopie und -Imaging an OLEDs
Mittels Laser-Floureszenz-Spektroskopie unter Variation der Anregungswellenlänge können Aussagen über die Lage, den Absorptionsquerschnitt und Art der Emitter einer OLED treffen. Bei dem entsprechendem bildgebendem Verfahren können Aussagen über die laterale Verteilung und Homogenität der Emitter getroffen werden
Flureszenz-Spektroskopie und Homogenitätsmessungen an Dünnschicht-Photovoltaik-Modulen
Wir haben jahrelange Erfahrung mit der Entwicklung von Laserprozessen zur Produktion von Dünnschicht-Solarzellen. Dabei wurde „nebenbei“ umfangreiches Wissen zur Messung von Defekten an den Zellen und Modulen aufgebaut.
Über die Homogenität der Elektrolumineszenz der Module können Aussagen über Kurzschlüsse und Leckströme getroffen werden. Durch Elektrolumineszenz-Spektroskopie kann lokal die Bandlücke das lichtabsorbierenden Halbleitermaterials ermittelt werden.
Haben Sie Interessen an bisher gemessenen Spektren?
http://laserinproduction.de/messtechnik-und-spektroskopie/spektrensammlung/